ONYX는 그래핀, 박막, 그 외 2D 재료의 전체 영역 비파괴 특성화를 제공하도록 설계된 세계 최초의 시스템입니다.Onyx는 마이크로 및 나노 스케일의 측정 장비 사이의 간극을 커버하여
0,5 mm²에서 넓은 영역(m²)까지 포괄적인 크기의 대상물을 빠른 속도로 특성화할 수 있는 혁신적인 제품입니다.
Onyx를 사용할 경우 연구실 수준의 다양한 2D 재료의 산업화를 촉진시킬 수 있습니다. 4-프로브 방법과 같은 다른 대면적 방법과 비교하여 Onyx는 샘플 품질의 공간적 분포를 측정할 수 있습니다. 또한, 수백 마이크로미터 정도의 공간 분해능을 통해 Raman, SEM 및 TEM과 같은 현미경 방법과 달리 시료의 넓은 영역을 빠르게 특성화할 수 있습니다. 주요 특징
- 균일성 및 균질성 검사
- 전기 전도도 및 저항
- 전기적 이동성과 캐리어 밀도
- 전체 샘플의 품질 관리
- Fraunhofer Institute와 공동 개발한 T-Wave 이미터/리셉터
- 샘플 크기: 1x1mm ~ 200x200mm(8”)
- 맞춤형 검사 영역(최대 m²)
- 비파괴 분석
- 초고속 측정- 12cm²/분
- HD 광학 카메라
- 단면 검사
- 시료 전처리 불필요
- 3축 자동 포지셔닝 시스템
- 견고한 풀 알루미늄 바디
Onyx 사용 시 직접적인 효과 - 100% 검사 생산
- 신소재의 빠른 개발
- 모든 재료 표면의 전기적 품질에 대한 정보
- 비용 절감: 생산 오류 조기 감지