INX 760 Probe Microscope
Optical section inspection machine
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TaesanSystem Co., Ltd Business Type
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Product Overview
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INX 760 Probe Microscope
Product Description
INX™ 760은 현장 기술자를 위한 최고의 도구로, 완벽한 파이버 연결을 보장하는 데 탁월한 효율성을 제공합니다. 25년 이상의 선구적인 혁신과 전문성의 정점으로, 차세대 파이버 단면 검사 및 분석의 정점에 서 있습니다. 파이버 검사가 많은 현장 기술자에게 표준 관행이 되었지만, 오염은 여전히 광 네트워크 문제의 1순위 원인입니다. 새로운 커넥터 유형이 등장하고, 현장에서 사용되는 커넥터 볼륨이 증가하고, 새로운 파이버 기술자가 증가함에 따라, 업계는 전환점에 도달했고, 새로운 검사 솔루션인 INX 760이 필요하게 되었습니다.
- 교정 대상 장비의 인터페이스 오염
- 여부 확인 / 판정
- 모든 광 인터페이스의 오염 여부 확인
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